Communication Dans Un Congrès
Année : 2014
Dauverchain Eric : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01923504
Soumis le : jeudi 15 novembre 2018-12:02:13
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:08
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01923504 , version 1
Citer
V. Gruzinskis, E. Starikov, P. Shiktorov, H. Marinchio, J. Torres, et al.. Gunn Effect in n-InP MOSFET at positive gate bias and impact ionization conditions. IEEE International Workshop On Computational Electronics, 2014, Paris, France. ⟨hal-01923504⟩
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