Thickness-dependent thermal properties of amorphous insulating thin films measured by photoreflectance microscopy
Abeer Al Motar
(1, 2, 3, 4, 5)
,
Gilles Tessier
(1, 2, 3)
,
Riina Ritasalo
(6)
,
Mikko Matvejeff
(7)
,
Jonhy Stormonth-Darling
(8)
,
Philipp Dobson
(9)
,
Pierre-Olivier Chapuis
(10)
,
Séverine Gomès
(10)
,
Jean-Paul Roger
(11)
1
UPD5 -
Université Paris Descartes - Paris 5
2 UMR 8250 - Laboratoire de Neurophotonique
3 UPD5 Sciences - Université Paris Descartes - Faculté des Sciences Fondamentales et Biomédicales
4 ESPCI Paris - Ecole Superieure de Physique et de Chimie Industrielles de la Ville de Paris
5 IL - Institut Langevin - Ondes et Images (UMR7587)
6 Picosun Oy
7 Picosun Oy, Tietotie 3, 02150 Espoo, Finland
8 Kelvin Nanotechnology
9 School of Engineering, University of Glasgow, Glasgow, UK
10 CETHIL - Centre d'Energétique et de Thermique de Lyon
11 LOP - Laboratoire d'Optique Physique (UPR0005)
2 UMR 8250 - Laboratoire de Neurophotonique
3 UPD5 Sciences - Université Paris Descartes - Faculté des Sciences Fondamentales et Biomédicales
4 ESPCI Paris - Ecole Superieure de Physique et de Chimie Industrielles de la Ville de Paris
5 IL - Institut Langevin - Ondes et Images (UMR7587)
6 Picosun Oy
7 Picosun Oy, Tietotie 3, 02150 Espoo, Finland
8 Kelvin Nanotechnology
9 School of Engineering, University of Glasgow, Glasgow, UK
10 CETHIL - Centre d'Energétique et de Thermique de Lyon
11 LOP - Laboratoire d'Optique Physique (UPR0005)
Abeer Al Motar
- Fonction : Auteur
Gilles Tessier
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1164522
- IdHAL : gilles-tessier
- ORCID : 0000-0003-3558-925X
- IdRef : 162143095
Pierre-Olivier Chapuis
- Fonction : Auteur
- PersonId : 171286
- IdHAL : pierre-olivier-chapuis
- ORCID : 0000-0002-6264-2530
- IdRef : 191202266
Séverine Gomès
- Fonction : Auteur
- PersonId : 171288
- IdHAL : severine-gomes
- ORCID : 0000-0002-1173-7177
- IdRef : 115013636