Direct measurement of AC electrokinetics properties and capture frequencies of silicon and silicon–germanium nanowires - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Semiconductor Science and Technology Année : 2018
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01914356 , version 1 (06-11-2018)

Identifiants

Citer

M. Merhej, T. Honegger, B Bassani, B Baron, D. Peyrade, et al.. Direct measurement of AC electrokinetics properties and capture frequencies of silicon and silicon–germanium nanowires. Semiconductor Science and Technology, 2018, 33 (1), ⟨10.1088/1361-6641/aa99fd⟩. ⟨hal-01914356⟩
42 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More