Direct measurement of AC electrokinetics properties and capture frequencies of silicon and silicon–germanium nanowires - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Semiconductor Science and Technology Année : 2018

Direct measurement of AC electrokinetics properties and capture frequencies of silicon and silicon–germanium nanowires

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Sciences de l'ingénieur [physics]

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https://hal.science/hal-01914356

Soumis le : mardi 6 novembre 2018-19:28:18

Dernière modification le : mardi 28 mai 2024-11:48:02

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hal-01914356 , version 1 (06-11-2018)

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Citer

M. Merhej, T. Honegger, B Bassani, B Baron, D. Peyrade, et al.. Direct measurement of AC electrokinetics properties and capture frequencies of silicon and silicon–germanium nanowires. Semiconductor Science and Technology, 2018, 33 (1), ⟨10.1088/1361-6641/aa99fd⟩. ⟨hal-01914356⟩

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