Determination of the Epitaxial Strains of a Thermally Grown Oxide on a Metallic Substrate - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Materials Science Forum Année : 2011

Determination of the Epitaxial Strains of a Thermally Grown Oxide on a Metallic Substrate

Lukasz Kurpaska
  • Fonction : Auteur
Jérôme Favergeon
Gérard Moulin
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 932623
Jean Marc Roelandt
  • Fonction : Auteur

Résumé

A generalization of the Bollmann’s method is used to evaluate the epitaxial strains at the metal/oxide interface. The numerical approach is described and applied to the Ni/NiO system in order to study the result sensitivity to some numerical parameters.
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01911295 , version 1 (02-11-2018)

Identifiants

Citer

Lukasz Kurpaska, Jérôme Favergeon, Laurent Lahoche, Gérard Moulin, Jean Marc Roelandt. Determination of the Epitaxial Strains of a Thermally Grown Oxide on a Metallic Substrate. Materials Science Forum, 2011, 696, pp.176 - 182. ⟨10.4028/www.scientific.net/msf.696.176⟩. ⟨hal-01911295⟩
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