NBTI aged cell rejuvenation with back biasing and resulting critical path reordering for digital circuits in 28nm FDSOI - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2018
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01897768 , version 1 (17-10-2018)

Licence

Identifiants

  • HAL Id : hal-01897768 , version 1

Citer

A. Sivadasan, R. Shah, F. Cacho, Lorena Anghel. NBTI aged cell rejuvenation with back biasing and resulting critical path reordering for digital circuits in 28nm FDSOI. Design Automation and Test in Europe (DATE'2018), Mar 2018, Dresden, Germany. ⟨hal-01897768⟩

Collections

UGA CNRS TIMA
29 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Mastodon Facebook X LinkedIn More