Communication Dans Un Congrès
Année : 2003
Vincent Pouget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01887685
Soumis le : jeudi 4 octobre 2018-13:19:35
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Citer
V. Pouget, D. Lewis, P. Fouillat. Time-resolved scanning of integrated circuits with a pulsed laser: application to transient fault injection in an ADC. 2003 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC 2003), May 2003, Vail, United States. ⟨10.1109/IMTC.2003.1207976⟩. ⟨hal-01887685⟩
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