Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2003
Vincent Pouget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01887645
Soumis le : jeudi 4 octobre 2018-12:02:59
Dernière modification le : mardi 8 octobre 2024-13:00:04
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01887645 , version 1
- DOI : 10.1016/S0026-2714(02)00282-2
Citer
T. Beauchêne, D. Lewis, F. Beaudoin, V. Pouget, P. Perdu, et al.. A physical approach on SCOBIC investigation in VLSI. Microelectronics Reliability, 2003, 43 (1), pp.173 - 177. ⟨10.1016/S0026-2714(02)00282-2⟩. ⟨hal-01887645⟩
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