Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Nuclear Science
Année : 2002
Vincent Pouget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01887641
Soumis le : jeudi 4 octobre 2018-11:59:02
Dernière modification le : mardi 23 janvier 2024-12:28:53
Citer
X. Belredon, J. David, D. Lewis, T. Beauchene, V. Pouget, et al.. Heavy ion-induced charge collection mechanisms in CMOS active pixel sensor. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2002, 49 (6), pp.2836 - 2843. ⟨10.1109/TNS.2002.806301⟩. ⟨hal-01887641⟩
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