Heavy ion-induced charge collection mechanisms in CMOS active pixel sensor - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Nuclear Science Année : 2002

Heavy ion-induced charge collection mechanisms in CMOS active pixel sensor

X. Belredon
  • Fonction : Auteur
J. David
  • Fonction : Auteur
D. Lewis
  • Fonction : Auteur
T. Beauchene
  • Fonction : Auteur
S. Barde
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01887641 , version 1 (04-10-2018)

Identifiants

Citer

X. Belredon, J. David, D. Lewis, T. Beauchene, V. Pouget, et al.. Heavy ion-induced charge collection mechanisms in CMOS active pixel sensor. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2002, 49 (6), pp.2836 - 2843. ⟨10.1109/TNS.2002.806301⟩. ⟨hal-01887641⟩
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