Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Nuclear Science
Année : 2000
Vincent Pouget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01887628
Soumis le : jeudi 4 octobre 2018-11:49:51
Dernière modification le : mardi 23 janvier 2024-12:28:53
Citer
S. Duzellier, D. Falguere, L. Guibert, V. Pouget, P. Fouillat, et al.. Application of laser testing in study of SEE mechanisms in 16-Mbit DRAMs. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2000, 47 (6), pp.2392 - 2399. ⟨10.1109/23.903782⟩. ⟨hal-01887628⟩
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