Article Dans Une Revue
Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics
Année : 2018
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https://hal.science/hal-01858392
Soumis le : lundi 20 août 2018-15:58:18
Dernière modification le : mercredi 3 avril 2024-11:14:12
Citer
Maiglid Moreno, Isabelle Mouton, Nicolas Chevalier, Jean-Paul Barnes, Franck Bassani, et al.. Combined ToF-SIMS and AFM protocol for accurate 3D chemical analysis and data visualization. Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics, 2018, 36 (3), pp.324 - 327. ⟨10.1116/1.5019464⟩. ⟨hal-01858392⟩
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