Ouvrages
Année : 1998
Bernadette Bergeret : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01840916
Soumis le : lundi 16 juillet 2018-18:48:45
Dernière modification le : mardi 9 avril 2024-08:56:04
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01840916 , version 1
Citer
J. Altet, A. Rubio, Stefan A Dilhaire, Emmanuel Schaub, W. Claeys. Thermal characterization of defects in an IC: Thermal testing. pp.216-220, 1998, Therminic: Collection of Papers Presented at the International Worksop on Thermal Investigations of Ics and Microstructures, 2-913329-01-2. ⟨hal-01840916⟩
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