Determination of the Nanoscale dielectric permittivity by means of a double pass method using EFM
Clément Riedel
(1)
,
Richard Arinero
(1, 2)
,
Philippe Tordjeman
(3)
,
Michel Ramonda
(4)
,
Gérard Leveque
(1)
,
Gustavo Ariel Schwartz
(5)
,
Angel Alegría
(6)
,
Juan Colmenero
(6)
1
IES -
Institut d’Electronique et des Systèmes
2 NANOMIR - Composants à Nanostructure pour le moyen infrarouge
3 IMFT - Institut de mécanique des fluides de Toulouse
4 UM - Université de Montpellier
5 CFM - Centro de Fisica de Materiales
6 UPV / EHU - Universidad del País Vasco [Espainia] / Euskal Herriko Unibertsitatea [España] = University of the Basque Country [Spain] = Université du pays basque [Espagne]
2 NANOMIR - Composants à Nanostructure pour le moyen infrarouge
3 IMFT - Institut de mécanique des fluides de Toulouse
4 UM - Université de Montpellier
5 CFM - Centro de Fisica de Materiales
6 UPV / EHU - Universidad del País Vasco [Espainia] / Euskal Herriko Unibertsitatea [España] = University of the Basque Country [Spain] = Université du pays basque [Espagne]
Richard Arinero
- Fonction : Auteur
- PersonId : 19300
- IdHAL : richard-arinero
- ORCID : 0000-0002-2578-2606
- IdRef : 079363083
Philippe Tordjeman
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1306565
- ORCID : 0000-0002-6470-9081
- IdRef : 083874488
Michel Ramonda
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1525100
- IdHAL : michel-ramonda
- ORCID : 0009-0008-7610-8612