Etude électrique et physique à l’échelle nanométrique des couches minces de SiO2 thermique sous différentes atmosphères - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Etude électrique et physique à l’échelle nanométrique des couches minces de SiO2 thermique sous différentes atmosphères

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01814134 , version 1 (12-06-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01814134 , version 1

Citer

Wael Hourani, Brice Gautier, Liviu Militaru, David Albertini, Armel Descamps-Mandine, et al.. Etude électrique et physique à l’échelle nanométrique des couches minces de SiO2 thermique sous différentes atmosphères. Forum des microscopies à sondes locales, Mar 2011, Ecully, France. ⟨hal-01814134⟩
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