Article Dans Une Revue
Thin Solid Films
Année : 1995
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https://hal.science/hal-01788484
Soumis le : mercredi 9 mai 2018-10:10:40
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:07
Citer
S. Dannefaer, T. Bretagnon, A. Foucaran, T. Taliercio, D. Kerr. Positron lifetime spectroscopy of n-type and p-type porous silicon. Thin Solid Films, 1995, 255 (1-2), pp.171 - 173. ⟨10.1016/0040-6090(94)05647-V⟩. ⟨hal-01788484⟩
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