Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2016
Zhiguo Zeng : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01787011
Soumis le : lundi 7 mai 2018-10:47:09
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01787011 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2016.02.015
Citer
Marco Rigamonti, Piero Baraldi, Enrico Zio, Allegra Alessi, Daniel Astigarraga, et al.. Identification of the degradation state for condition-based maintenance of insulated gate bipolar transistors: A self-organizing map approach. Microelectronics Reliability, 2016, 60, pp.48 - 61. ⟨10.1016/j.microrel.2016.02.015⟩. ⟨hal-01787011⟩
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