Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2014
Vincenzo Della Marca : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01760459
Soumis le : vendredi 6 avril 2018-12:46:00
Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01760459 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2014.07.063
Citer
V. Della Marca, J. Postel-Pellerin, G. Just, P. Canet, J.-L. Ogier. Impact of endurance degradation on the programming efficiency and the energy consumption of NOR flash memories. Microelectronics Reliability, 2014, 54 (9-10), pp.2262 - 2265. ⟨10.1016/j.microrel.2014.07.063⟩. ⟨hal-01760459⟩
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