Single-ended sense amplifier robustness evaluation for OxRRAM technology - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01745737 , version 1 (28-03-2018)

Identifiants

Citer

Hassen Aziza, Marc Bocquet, Mathieu Moreau, Jean-Michel Portal. Single-ended sense amplifier robustness evaluation for OxRRAM technology. 2013 IEEE Design and Test Symposium (IDT), Dec 2013, Marrakesh, Morocco. ⟨10.1109/IDT.2013.6727097⟩. ⟨hal-01745737⟩
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