Single-ended sense amplifier robustness evaluation for OxRRAM technology - Archive ouverte HAL

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Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Single-ended sense amplifier robustness evaluation for OxRRAM technology

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Hassen Aziza

Fonction : Auteur
PersonId : 177966
IdHAL : azizah
ORCID : 0000-0002-8278-7462
IdRef : 085275581

Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

Marc Bocquet

Fonction : Auteur
PersonId : 18361
IdHAL : bocquetm
ORCID : 0000-0003-3777-5793
IdRef : 145856739

Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

Mathieu Moreau

Fonction : Auteur
PersonId : 18508
IdHAL : mathieu-moreau
ORCID : 0000-0002-2332-4273
IdRef : 152085866

Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

Jean-Michel Portal

Fonction : Auteur
PersonId : 20388
IdHAL : jean-michel-portal
ORCID : 0000-0002-6722-053X
IdRef : 102048045

Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Mathieu Moreau : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01745737

Soumis le : mercredi 28 mars 2018-14:59:01

Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03

Dates et versions

hal-01745737 , version 1 (28-03-2018)

Identifiants

HAL Id : hal-01745737 , version 1
DOI : 10.1109/IDT.2013.6727097

Citer

Hassen Aziza, Marc Bocquet, Mathieu Moreau, Jean-Michel Portal. Single-ended sense amplifier robustness evaluation for OxRRAM technology. 2013 IEEE Design and Test Symposium (IDT), Dec 2013, Marrakesh, Morocco. ⟨10.1109/IDT.2013.6727097⟩. ⟨hal-01745737⟩

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