A Built-In Self-Test Structure (BIST) for Resistive RAMs Characterization: Application to Bipolar OxRRAMs
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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| Licence |
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| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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Soumis le : mercredi 28 mars 2018-14:55:48
Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03
Archivage à long terme le : jeudi 13 septembre 2018-09:38:53