«Piezo-Force Microscopy for Probing Nanoscale Electrical Properties in Ferroelectric Oxide Thin Films» - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

«Piezo-Force Microscopy for Probing Nanoscale Electrical Properties in Ferroelectric Oxide Thin Films»

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01725558 , version 1 (07-03-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01725558 , version 1

Citer

A. Ferri, S. Saitzek, R. Desfeux, A. da Costa. «Piezo-Force Microscopy for Probing Nanoscale Electrical Properties in Ferroelectric Oxide Thin Films». 2nd Annual World Congress of Advanced Materials-2013 (WCAM-2013), 2013, Suzhou, China. ⟨hal-01725558⟩
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