Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2017
Laurence BEN TITO : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01721108
Soumis le : jeudi 1 mars 2018-17:11:57
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:36:40
Dates et versions
Licence
Identifiants
- HAL Id : hal-01721108 , version 1
Citer
R. O. Rocha, Frank Sill Torres, Rodrigo Possamai Bastos. Towards high-sensitive built-in current sensors enabling detection of radiation-induced soft errors. Microelectronics Reliability, 2017. ⟨hal-01721108⟩
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