Towards high-sensitive built-in current sensors enabling detection of radiation-induced soft errors - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2017
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01721108 , version 1 (01-03-2018)

Licence

Paternité - Pas d'utilisation commerciale

Identifiants

  • HAL Id : hal-01721108 , version 1

Citer

R. O. Rocha, Frank Sill Torres, Rodrigo Possamai Bastos. Towards high-sensitive built-in current sensors enabling detection of radiation-induced soft errors. Microelectronics Reliability, 2017. ⟨hal-01721108⟩

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