Scanning acoustic microscopy and shear wave imaging mode performances for failure detection in high-density microassembling technologies - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Scanning acoustic microscopy and shear wave imaging mode performances for failure detection in high-density microassembling technologies

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Electronique

Isabelle Bord  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01719760

Soumis le : mercredi 28 février 2018-14:30:11

Dernière modification le : mardi 19 novembre 2024-14:04:09

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Dates et versions

hal-01719760 , version 1 (28-02-2018)

Identifiants

Citer

Z. Remili, Y. Ousten, B. Levrier, E. Suhir, L. Bechou. Scanning acoustic microscopy and shear wave imaging mode performances for failure detection in high-density microassembling technologies. 2015 IEEE 65th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), May 2015, San Diego, France. ⟨10.1109/ECTC.2015.7159891⟩. ⟨hal-01719760⟩

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