Article Dans Une Revue
Semiconductor Science and Technology
Année : 2016
Bogdan Cretu : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01712415
Soumis le : lundi 19 février 2018-14:44:18
Dernière modification le : mercredi 20 mars 2024-16:20:04
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01712415 , version 1
- DOI : 10.1088/0268-1242/31/12/124006
Citer
B Cretu, D Boudier, E. Simoen, A Veloso, N. Collaert. Assessment of DC and low-frequency noise performances of triple-gate FinFETs at cryogenic temperatures. Semiconductor Science and Technology, 2016, 31 (12), pp.124006. ⟨10.1088/0268-1242/31/12/124006⟩. ⟨hal-01712415⟩
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