Assessment of DC and low-frequency noise performances of triple-gate FinFETs at cryogenic temperatures - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Semiconductor Science and Technology Année : 2016

Assessment of DC and low-frequency noise performances of triple-gate FinFETs at cryogenic temperatures

B Cretu
E. Simoen
  • Fonction : Auteur
A Veloso
  • Fonction : Auteur
N. Collaert
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01712415 , version 1 (19-02-2018)

Identifiants

Citer

B Cretu, D Boudier, E. Simoen, A Veloso, N. Collaert. Assessment of DC and low-frequency noise performances of triple-gate FinFETs at cryogenic temperatures. Semiconductor Science and Technology, 2016, 31 (12), pp.124006. ⟨10.1088/0268-1242/31/12/124006⟩. ⟨hal-01712415⟩
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