Communication Dans Un Congrès
Année : 2017
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https://hal.science/hal-01712376
Soumis le : lundi 19 février 2018-14:20:13
Dernière modification le : mercredi 20 mars 2024-16:20:04
Citer
D. Boudier, B. Cretu, E. Simoen, A. Veloso, N. Collaert. On trap identification in triple-gate FinFETs and Gate-All-Around nanowire MOSFETs using low frequency noise spectroscopy. 2017 International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF), Jun 2017, Vilnius, France. ⟨10.1109/ICNF.2017.7985990⟩. ⟨hal-01712376⟩
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