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Communication Dans Un Congrès Année : 2017

On trap identification in triple-gate FinFETs and Gate-All-Around nanowire MOSFETs using low frequency noise spectroscopy

B. Cretu
E. Simoen
  • Fonction : Auteur
A. Veloso
  • Fonction : Auteur
N. Collaert
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01712376 , version 1 (19-02-2018)

Identifiants

Citer

D. Boudier, B. Cretu, E. Simoen, A. Veloso, N. Collaert. On trap identification in triple-gate FinFETs and Gate-All-Around nanowire MOSFETs using low frequency noise spectroscopy. 2017 International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF), Jun 2017, Vilnius, France. ⟨10.1109/ICNF.2017.7985990⟩. ⟨hal-01712376⟩
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