Reliability of power MOSFET-based smart switches under normal and extreme conditions for 24 V battery system applications - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01700479 , version 1 (04-02-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01700479 , version 1

Citer

Gilles Rostaing, Mounira Berkani, Stéphane Lefebvre, Zoubir Khatir, Philippe Dupuy. Reliability of power MOSFET-based smart switches under normal and extreme conditions for 24 V battery system applications. ESREF, 2013, Arcachon, France. ⟨hal-01700479⟩
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