Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2014
Stéphane Lefebvre : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01700449
Soumis le : dimanche 4 février 2018-15:56:50
Dernière modification le : lundi 7 août 2023-15:22:07
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01700449 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2014.08.011
Citer
Michele Riccio, Vincenzo D’alessandro, Andrea Irace, Gilles Rostaing, Mounira Berkani, et al.. 3-D electrothermal simulation of active cycling on smart power MOSFETs during short-circuit and UIS conditions. Microelectronics Reliability, 2014, 54 (9-10), pp.1845 - 1850. ⟨10.1016/j.microrel.2014.08.011⟩. ⟨hal-01700449⟩
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