A measure using the eddy current technique on the effect of aluminum reconstruction in power semiconductor modules - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2012
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01696206 , version 1 (30-01-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01696206 , version 1

Citer

Tien Anh Nguyen, Denis Labrousse, Pierre-Yves Joubert, Stéphane Lefebvre, Serge Bontemps. A measure using the eddy current technique on the effect of aluminum reconstruction in power semiconductor modules. PCIM Europe 2012, May 2012, Nuremberg, Germany. ⟨hal-01696206⟩
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