Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2017
sebastien fregonese : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01695265
Soumis le : lundi 29 janvier 2018-10:54:58
Dernière modification le : mercredi 15 novembre 2023-13:14:27
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01695265 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2017.05.001
Citer
C. Mukherjee, T. Jacquet, A. Chakravorty, T. Zimmer, J. Boeck, et al.. Random telegraph noise in SiGe HBTs: Reliability analysis close to SOA limit. Microelectronics Reliability, 2017, 73, pp.146 - 152. ⟨10.1016/j.microrel.2017.05.001⟩. ⟨hal-01695265⟩
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