Supercapacitor ageing at constant temperature and constant voltage and thermal shock - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2010
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01646990 , version 1 (24-11-2017)

Identifiants

Citer

H. Gualous, R. Gallay, G. Alcicek, B. Tala-Ighil, A. Oukaour, et al.. Supercapacitor ageing at constant temperature and constant voltage and thermal shock. Microelectronics Reliability, 2010, 50 (9-11), pp.1783 - 1788. ⟨10.1016/j.microrel.2010.07.144⟩. ⟨hal-01646990⟩
114 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More