Supercapacitor ageing at constant temperature and constant voltage and thermal shock - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2010

Supercapacitor ageing at constant temperature and constant voltage and thermal shock

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Energie électrique

Bertrand BOUDART  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01646990

Soumis le : vendredi 24 novembre 2017-09:09:50

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

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Dates et versions

hal-01646990 , version 1 (24-11-2017)

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Citer

H. Gualous, R. Gallay, G. Alcicek, B. Tala-Ighil, A. Oukaour, et al.. Supercapacitor ageing at constant temperature and constant voltage and thermal shock. Microelectronics Reliability, 2010, 50 (9-11), pp.1783 - 1788. ⟨10.1016/j.microrel.2010.07.144⟩. ⟨hal-01646990⟩

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