Effect of fixed dielectric charges on tunnelling transparency in MIM and MIS structures

S. Bernardini; P. Masson; M. Houssa

doi:10.1016/j.mee.2003.12.022

Article Dans Une Revue Microelectronic Engineering Année : 2004

Effect of fixed dielectric charges on tunnelling transparency in MIM and MIS structures

(1) , ,

S. Bernardini

Fonction : Auteur
PersonId : 11271
IdHAL : sandrine-bernardini
ORCID : 0000-0001-9673-222X
IdRef : 084553219

University of Manchester Institute of Science and Technology

P. Masson

Fonction : Auteur

M. Houssa

Fonction : Auteur

Résumé

no abstract

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Sandrine Bernardini : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01633148

Soumis le : samedi 11 novembre 2017-15:50:58

Dernière modification le : mardi 23 juillet 2019-11:16:04

Dates et versions

hal-01633148 , version 1 (11-11-2017)

Identifiants

HAL Id : hal-01633148 , version 1
DOI : 10.1016/j.mee.2003.12.022

Citer

S. Bernardini, P. Masson, M. Houssa. Effect of fixed dielectric charges on tunnelling transparency in MIM and MIS structures. Microelectronic Engineering, 2004, 72 (1-4), pp.90-95. ⟨10.1016/j.mee.2003.12.022⟩. ⟨hal-01633148⟩

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