Evaluation of ELDRS Mechanisms Using Dose Rate Switching Experiments on Gated Lateral PNP Transistors - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Nuclear Science Année : 2011

Evaluation of ELDRS Mechanisms Using Dose Rate Switching Experiments on Gated Lateral PNP Transistors

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Electronique

Dauverchain Eric  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01632669

Soumis le : vendredi 10 novembre 2017-14:57:25

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Dates et versions

hal-01632669 , version 1 (10-11-2017)

Identifiants

Citer

Yago Gonzalez-Velo, Jérôme Boch, Frédéric Saigné, Nicolas J.-H. Roche, Stephanie Perez, et al.. Evaluation of ELDRS Mechanisms Using Dose Rate Switching Experiments on Gated Lateral PNP Transistors. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2011, 58 (6), pp.2953 - 2960. ⟨10.1109/TNS.2011.2170707⟩. ⟨hal-01632669⟩

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