Measurement and calculation of charge deposition in a silicon diode irradiated by 30 MeV protons
Simon Rocheman
(1)
,
Frédéric Wrobel
(1, 2)
,
Frédéric Saigné
(1, 2)
,
Jean-Roch Vaillé
(1, 2, 3)
,
Cécile Weulersse
(4)
,
Nadine Buard
(4)
,
Florent Miller
(4)
,
Thierry Carrière
(5)
Frédéric Wrobel
- Fonction : Auteur
- PersonId : 11044
- IdHAL : frederic-wrobel
- ORCID : 0000-0002-2437-1223
- IdRef : 069697027
Frédéric Saigné
- Fonction : Auteur
- PersonId : 19534
- IdHAL : frederic-saigne
- IdRef : 110480821
Jean-Roch Vaillé
- Fonction : Auteur
- PersonId : 19297
- IdHAL : jean-roch-vaille
- ORCID : 0000-0003-1367-0225
- IdRef : 079304702