Article Dans Une Revue Journal of Applied Physics Année : 2008
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Dates et versions

hal-01630112 , version 1 (07-11-2017)

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Citer

Simon Rocheman, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné, Jean-Roch Vaillé, Cécile Weulersse, et al.. Measurement and calculation of charge deposition in a silicon diode irradiated by 30 MeV protons. Journal of Applied Physics, 2008, 104 (9), ⟨10.1063/1.2990072⟩. ⟨hal-01630112⟩
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