Optical characterisation of Ge islands grown on Si(110) - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Journal Année : 2002

Dates et versions

hal-01616513 , version 1 (13-10-2017)

Identifiants

Citer

Philippe Ferrandis, L Vescan, B. Holländer. Optical characterisation of Ge islands grown on Si(110). Microelectronics Journal, 2002, 33 (7), pp.541-546. ⟨10.1016/S0026-2692(02)00016-2⟩. ⟨hal-01616513⟩
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