Article Dans Une Revue
Journal of Applied Crystallography
Année : 2011
Colin Bousige : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01610742
Soumis le : jeudi 5 octobre 2017-09:25:41
Dernière modification le : mercredi 1 novembre 2023-03:40:15
Citer
Colin Bousige, Catherine Dejoie, Martin Kunz, Nobumichi Tamura, Kai Chen, et al.. Determining the energy-dependent X-ray flux variation of a synchrotron beamline using Laue diffraction patterns. Journal of Applied Crystallography, 2011, 44 (1), pp.177 - 183. ⟨10.1107/S0021889810052015⟩. ⟨hal-01610742⟩
Collections
55
Consultations
0
Téléchargements