Determining the energy-dependent X-ray flux variation of a synchrotron beamline using Laue diffraction patterns - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Applied Crystallography Année : 2011

Dates et versions

hal-01610742 , version 1 (05-10-2017)

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Citer

Colin Bousige, Catherine Dejoie, Martin Kunz, Nobumichi Tamura, Kai Chen, et al.. Determining the energy-dependent X-ray flux variation of a synchrotron beamline using Laue diffraction patterns. Journal of Applied Crystallography, 2011, 44 (1), pp.177 - 183. ⟨10.1107/S0021889810052015⟩. ⟨hal-01610742⟩
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