Improving leaf wetness duration modeling with simple physics : applications to apple scab - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Improving leaf wetness duration modeling with simple physics : applications to apple scab

Résumé

Improving leaf wetness duration modeling with simple physics : applications to apple scab. 75. New England, NY, Canada Fruit Pest Management Workshop
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Identifiants

  • HAL Id : hal-01594312 , version 1
  • PRODINRA : 404282

Citer

Alexandre Leca. Improving leaf wetness duration modeling with simple physics : applications to apple scab. 75. New England, NY, Canada Fruit Pest Management Workshop, 2013, Burlington, VT, United States. ⟨hal-01594312⟩
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