Optimisation des Tests de Production pour les Circuits Analogiques avec prise en compte des tolérances - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 1999

Optimisation des Tests de Production pour les Circuits Analogiques avec prise en compte des tolérances

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01574789 , version 1 (16-08-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01574789 , version 1

Citer

Abdelhakim Khouas, Anne Derieux. Optimisation des Tests de Production pour les Circuits Analogiques avec prise en compte des tolérances. Colloque CAO de Circuits Intégrés et Systèmes GDR 732, May 1999, Aix-en-Provence, France. ⟨hal-01574789⟩
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