X-ray tomography applied to the characterization of highly porous materials - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Annual Review of Materials Science Année : 2012

X-ray tomography applied to the characterization of highly porous materials

Résumé

no abstract

Domaines

Matériaux
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01538223 , version 1 (13-06-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01538223 , version 1

Citer

Eric Maire. X-ray tomography applied to the characterization of highly porous materials. Annual Review of Materials Science, 2012, 42, pp.163--178. ⟨hal-01538223⟩
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