Poster De Conférence
Année : 2012
Hal Iprem : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01497844
Soumis le : mercredi 29 mars 2017-12:52:19
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:15
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01497844 , version 1
Citer
Hervé Martinez. Surface analysis techniques (XPS, AES-SEM, AFM) for the study of miniaturized source of energ. 15TH MEETING OF CHARACTERIZATION METHODS FOR MICROELECTRONICS AND PHOTOVOLTAICS, Nov 2012, Aix en Provence, France. ⟨hal-01497844⟩
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