Proving or disproving ferroelectricity in very thin oxide layers by Piezoresponse Force Microscopy
Résumé
no abstract
Laboratoire INL UMR5270 Inl : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01489580
Soumis le : mardi 14 mars 2017-14:57:05
Dernière modification le : mercredi 13 mars 2024-15:14:05