Electromechanical response of amorphous LaAlO3 thin film probed by scanning probe microscopies
Résumé
no abstract
Laboratoire INL UMR5270 Inl : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01489365
Soumis le : mardi 14 mars 2017-14:10:45
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:04