Study of workload impact on BTI HCI induced aging of digital circuits - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01474800 , version 1 (23-02-2017)

Licence

Paternité - Pas d'utilisation commerciale

Identifiants

  • HAL Id : hal-01474800 , version 1

Citer

A. Sivadasan, F. Cacho, A. Benhassain, V. Huard, Lorena Anghel. Study of workload impact on BTI HCI induced aging of digital circuits. Design Automation and Test in Europe (DATE'16), Mar 2016, Dresden, Germany. ⟨hal-01474800⟩

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