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Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Multiple Defects Tolerant Devices for Unreliable Future Nanotechnologies

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01408796 , version 1 (05-12-2016)

Licence

Paternité - Pas d'utilisation commerciale

Identifiants

  • HAL Id : hal-01408796 , version 1

Citer

C. Lazzari, Lorena Anghel, M. Nicolaidis. Multiple Defects Tolerant Devices for Unreliable Future Nanotechnologies. IEEE Latin American Test Workshop (LATW'06), Mar 2006, Buenos Aires, Argentina. ⟨hal-01408796⟩

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