Interfacial chemistry in a ZnTe/CdSe superlattice studied by atom probe tomography and transmission electron microscopy strain measurements - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Journal of Microscopy Année : 2016

Interfacial chemistry in a ZnTe/CdSe superlattice studied by atom probe tomography and transmission electron microscopy strain measurements

Domaines

Physique [physics] Matière Condensée [cond-mat]

Regis ANDRE  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01390785

Soumis le : mercredi 2 novembre 2016-14:29:29

Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-10:15:32

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Dates et versions

hal-01390785 , version 1 (02-11-2016)

Identifiants

Citer

B. Bonef, B. Haas, J-L. Rouvière, R. André, C. Bougerol, et al.. Interfacial chemistry in a ZnTe/CdSe superlattice studied by atom probe tomography and transmission electron microscopy strain measurements. Journal of Microscopy, 2016, 262 (2), pp.178 - 182. ⟨10.1111/jmi.12340⟩. ⟨hal-01390785⟩

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