Caractérisation par corrélations quantiques de la région de seuil d'un microlaser de classe B
Résumé
La mesure du taux de coïncidence de photons émis par des lasers à semiconducteurs opérant dans la région du seuil permet de caractériser celle-ci aux très faibles intensités émises. Elle peut également fournir un accès indirecte à leur dynamique temporelle?
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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