Effect of Measurement Errors on the VSI Xbar Chart - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue European Journal of Industrial Engineering Année : 2016

Effect of Measurement Errors on the VSI Xbar Chart

Xuelong Hu
Philippe Castagliola
Institut de Recherche en Communications et en Cybernétique de Nantes
Jinsheng Sun
  • Fonction : Auteur
Michael B.C. Khoo
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 878152
School of Mathematical Sciences

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Philippe Castagliola  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01327313

Soumis le : lundi 6 juin 2016-16:02:49

Dernière modification le : mardi 9 juillet 2024-10:12:01

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Dates et versions

hal-01327313 , version 1 (06-06-2016)

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Citer

Xuelong Hu, Philippe Castagliola, Jinsheng Sun, Michael B.C. Khoo. Effect of Measurement Errors on the VSI Xbar Chart. European Journal of Industrial Engineering, 2016, 10 (2), pp.224-242. ⟨10.1504/EJIE.2016.075853⟩. ⟨hal-01327313⟩

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