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Communication Dans Un Congrès Année : 1998

X-ray diffraction and reflectivity study of porous silicon

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01265506 , version 1 (01-02-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01265506 , version 1

Citer

Virginie Chamard, G. Dolino. X-ray diffraction and reflectivity study of porous silicon. External Seminar, Institut für Experimentelle und Angewandte Physik, University of Kiel, Sep 1998, Kiel, Germany. ⟨hal-01265506⟩

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