THz imaging versus X-Ray tomography: Applications to material inspection - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

THz imaging versus X-Ray tomography: Applications to material inspection

Domaines

Electromagnétisme

Frédéric Darracq  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01264760

Soumis le : vendredi 29 janvier 2016-16:20:52

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01264760 , version 1 (29-01-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01264760 , version 1

Citer

Benoît Recur, Hugo Balacey, Joyce Bou Sleiman, Jb Perraud, Patrick Mounaix. THz imaging versus X-Ray tomography: Applications to material inspection. ICMTS, 2015, Quebec, Canada. ⟨hal-01264760⟩

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