Tunable Eddy Current Device for the Contactless Characterization of a Large Variety of Semiconductor Materials - Archive ouverte HAL
Poster De Conférence Année : 2015

Tunable Eddy Current Device for the Contactless Characterization of a Large Variety of Semiconductor Materials

Domaines

Electromagnétisme Matériaux

florent LOETE  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01246248

Soumis le : vendredi 18 décembre 2015-11:58:53

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:01

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01246248 , version 1 (18-12-2015)

Identifiants

Citer

Florent Loete, Yann Le Bihan, Denis Mencaraglia. Tunable Eddy Current Device for the Contactless Characterization of a Large Variety of Semiconductor Materials. 2015 IEEE SENSORS, Nov 2015, Busan, South Korea. ⟨10.1109/ICSENS.2015.7370427⟩. ⟨hal-01246248⟩

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